简介:  内容介绍: 本书的第一版《模式fenlei与场景分析》出版于1973年,是模式识别和场景分析领域奠基性的经典名著。在第二版中,除了保留第一版的关于统计模式识别和结构模式识别的主要内容以外,读者会发现新增了许多近25年来的新理论和新方法,其中包括神经网络、机器学习、数据挖掘、进化计算、不变量理论、隐马尔可夫模型、统计学习理论和支持向量机等。作者还为未来25年的模式识别的发展指明了方向。 书中包含了许多实例,各种不同方法的对比,丰富的图表,以及大量的课后习题和计算机练习。本书作为流行和经典的教材,主要面向电子工程、计算机科学、数学和统计学、媒体处理、模式识别、计算机视觉、人工智能和认知科学等领域的研究生和高年级本科生,也可作为相关领域科技人员的重要参考书。 基本信息: 原书名: Pattern Classification,Second Edition 出版社: John Wiley & sons,Inc. 作者: (美)Richard O.Duda, Peter E.Hart, David G.Stork 丛书名: 经典原版书库 出版日期:2004 年2月 开本:16开 页码:654 版次:2-1 所属fenlei: 计算机 > 软件工程及软件方法学 > 软件过程 教材 > 研究生/本科/专科教材 > 工学 > 计算机 计算机 > 人工智能 > 模式识别 教材 > 计算机教材 > 本科/研究生 > 计算机专业教材 > 计算机专业课程 > 人工智能与神经网络 作者介绍: RichardcO.0Duda于麻省理工学院获得电气工程博士学位,是加州SancJose州立大学电气工程系名誉教授,他是美国人工智能学会会士,IEEE会士;PetercE.cHart是加州RicohcInnovations公司的创始人、总裁和CEO,2同时还是理光公司的高级副总裁,2此前曾任理光加州研究中心的高级副总裁.他是美国人工智能学会会士、IEEE会士,2曾获IEEE信息论协会50周年论文奖.DavidcG.Stork于马里兰大学获得博士学位,现任加州RicohcInnovations公司的首席科学家,同时也是斯坦福大学电气工程与计算机科学客座教授. 内容截图:
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